PURA
露點計

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主要特點

  • 測量範圍低至 -120 °Cdp (-184 °Fdp) (1ppbV)
  • 穩定且可重複的測量
  • 反應快速
  • 4…20 mA
  • 可追溯的校正報告
  • VCR 製程連接件
  • 可搭配控制器
  • 類比輸出或數位輸出
  • 提供防爆規格

概述

用於測量超高純度氣體中的微量水分(1ppb)。Pura 安裝簡便，提供類比或數位輸出，並可選配防爆 IS 認證，此外還配備一系列 VCR 製程連接和電氣連接。此外，也適用舊換新方案，降低維護成本。

  • 氣體純化系統
  • 半導體製造
  • 高純氣應用
  • 光纖製造
  • 光學鍍膜製程
  • 電子元件製造
  • 特殊氣體的生產